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  • SmartLab-9Kw

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      2-3h

      3-4h

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      塊體

      薄膜

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    基本原理

    X射線與晶體相遇時,若滿足布拉格方程,則在某些特殊方向上將産生強X射線衍射,衍射線的分布和強度與晶體結構密切相關。高性能的日本理學SmartLab型智能X射線衍射儀,能夠用于分析金屬、氧化物、納米材料、超導材料、有機高分子等各種材料的晶體結構。

    主要特點

       ● 适用于粉末样品、块状样品、薄膜样品、微量样品

       ● 最大輸出功率高達9kW,適用于微量分析、深層分析 
       ● 最高分辨率0.0002°,測量精度高 
       ● 光學元件自動識別,全自動光路校正及樣品高度校正,重複性高

    應用領域

        廣泛應用于物理學、化學、地礦學、藥學、冶金學、高分子科學、環保、考古、生命科學以及材料科學等領域。 
        ● 计算结晶度、晶粒大小、晶胞参数精确测定 
        ● 确定晶系、畸变和微观应变测量 
        ● 粉末样品的物相定性与定量分析 
        ● 薄膜样品摇摆曲线、倒易空间图等 
        ● 薄膜反射率測試、多層膜厚度、表面粗糙度等


用戶評價

5分

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實驗速度
5.0
服務態度
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